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AFM modalità di contatto afm atomic force microscopy

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Nanbei Instrument Limited Fornitore multi-specialità 12 yrs CN
AFM modalità di contatto afm atomic force microscopy
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Attributi chiave

Altri attributi

Punto d'origine
Henan, China
Garanzia
3 anni
Supporto personalizzato
OEM, ODM, OBM
Marca
NANBEI
Numero del Modello
AFM1000
Nome
AFM modalità di contatto afm microscopia a forza atomica
Modalità di lavoro
FM-Tapping, tocco, attrito, fase, magnetico o elettrostatico
Taglia
≤ 90mm,H≤ 20mm
Intervallo di scansione
H:20um;V :2um
Risoluzione di scansione
H:0.2um; V :0.05um
Intervallo mobile campione
0-20um
Ingrandimento
4X
Design antiurto
Molla a sbalzo
Scatola di temperatura
Scatola di umidità a temperatura costante
Dimensione
415*410*545mm

Imballaggio e consegna

Unità di vendita:
Articolo singolo
Dimensioni della confezione singola:
42X41X55 cm
Peso loro per unità:
15.000 kg

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